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天津科億維電氣(查看)-低電壓高電流直流電子負(fù)載

通常如果被測(cè)的直流電源的功率較大，而單個(gè)的電子負(fù)載沒有足夠的功率，我們可能會(huì)希望將多個(gè)電子負(fù)載進(jìn)行串聯(lián)或并聯(lián)來擴(kuò)展電子負(fù)載的功率。如果是電流不夠，我們可以通過將多臺(tái)電子負(fù)載并聯(lián)起來，但如果電壓不夠，是否也可以使用幾臺(tái)電子負(fù)載進(jìn)行串聯(lián)呢？

如果你這樣做，估計(jì)你不但不能夠?qū)崿F(xiàn)你的測(cè)試目的，更可能得到的結(jié)局是損壞電子負(fù)載。

接下來我們就一起分析這是為什么？當(dāng)然，我們必須事先了解電子負(fù)載是如何工作的，這個(gè)在之前的博客文章中有介紹。電子負(fù)載是通過控制和調(diào)整跨接在其輸入端的FET功率場(chǎng)效應(yīng)管RDS，似乎將多臺(tái)電子負(fù)載串聯(lián)應(yīng)該沒有什么大問題。如圖2所示，假如我們將兩臺(tái)串聯(lián)的電子負(fù)載都設(shè)置為CC 模式，而且設(shè)置為完全相同的電流值，譬如都設(shè)置為10.00A。但實(shí)際上電子負(fù)載不可能是的10.00A，如果其中一臺(tái)實(shí)際為9.99A，而另外一臺(tái)為10.01A。這樣一來，電子負(fù)載 2就不可能達(dá)到其設(shè)置值，因此，它就不停的減小FET的RDS直到0（短路），這樣所有的電壓就全部加載到電子負(fù)載1上使得它過壓損壞。

電子負(fù)載儀以增強(qiáng)AVRRISC結(jié)構(gòu)的ATmega16控制器為核心，設(shè)計(jì)并制作了直流電子負(fù)載儀。

系統(tǒng)通過斜波發(fā)生器產(chǎn)生的鋸齒波和電流采樣信號(hào)與控制信號(hào)的誤差信號(hào)作比較產(chǎn)生約20kHz的PWM波控制MOSFET管工作，然后經(jīng)過誤差放大器的PI調(diào)節(jié)構(gòu)成閉環(huán)負(fù)反饋控制環(huán)路，實(shí)現(xiàn)恒流。

恒阻和恒壓模式通過軟件實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)流過MOS管電路的電流實(shí)現(xiàn)。

實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)顯示，系統(tǒng)恒流模式下精度在l%以內(nèi)，恒阻與恒功率模式下精度在3%以內(nèi)。

電子負(fù)載儀是基于電力電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)和自動(dòng)控制技術(shù)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的一種電力電子裝置；可以模擬各種負(fù)載特性，具有使用靈活和節(jié)約能源等優(yōu)點(diǎn)。

用來測(cè)試電源的，對(duì)電源進(jìn)行可靠性試驗(yàn)（老化放電試驗(yàn)）、輸出特性試驗(yàn)等，以考驗(yàn)其技術(shù)指標(biāo)和性能。

因本次測(cè)試對(duì)象為動(dòng)力電池，其在工作過程中一般都是以大電流的形式工作，此時(shí)對(duì)電池的內(nèi)阻要求就非常高，為不在這里保證內(nèi)阻的測(cè)量精度我們選擇利用電子負(fù)載對(duì)電池進(jìn)行直流放電法來測(cè)量。具體測(cè)試如下：

為避免在測(cè)試過程中因線路損耗造成產(chǎn)生測(cè)量誤差我們采用四線制測(cè)量（兩根電流控制線、兩根采樣線以作線損補(bǔ)償）

線材要求：電流線服從電流國(guó)標(biāo)要求，采樣線無要求，聯(lián)通即可。

具體操作如下：

連接好待測(cè)電池和測(cè)量?jī)x器電子負(fù)載；

1）進(jìn)入負(fù)載電池內(nèi)阻測(cè)試界面，shift+3；

2）設(shè)置被測(cè)電池的放電電流，設(shè)置例如2C（這個(gè)根據(jù)要求測(cè)量相關(guān)電流）。

3）按下開始按鈕開始測(cè)試，負(fù)載屏幕將顯示被測(cè)電池的內(nèi)阻。

4）軟件有相對(duì)應(yīng)功能，測(cè)試方法及設(shè)置跟手動(dòng)相同。

注：因?yàn)橐獪y(cè)量的電池的內(nèi)阻很小，線路的電阻就要考慮進(jìn)去了。一條短短的從儀器到電池的連接線本身也存在電阻（大約也是毫歐級(jí)），還有電池與連接線的接觸面也存在接觸電阻，這些因素必須都在儀器的內(nèi)部事先做好誤差調(diào)節(jié)。